Общий физический практикум. Часть 4. Оптика. Дифракция
Скачать файл:
Полный текст на другом сайтеURI (для ссылок/цитирований):
Составитель:
Патрин, Геннадий Семенович
Резина, Елена Геннадьевна
Сухов, Лев Тимофеевич
Коллективный автор:
Сибирский федеральный университет
Институт инженерной физики и радиоэлектроники
Дата:
2023Библиографическое описание:
Общий физический практикум. Часть 4. Оптика. Дифракция : учебно-методическое пособие / Сиб. федер. ун-т, Ин-т инж. физики и радиоэлектроники, 2023. - 90 с. - Текст : электронный.Учебно-методическое пособие.
Доступ к полному тексту открыт из сети СФУ, вне сети доступ возможен для читателей Научной библиотеки СФУ или за плату.
Аннотация:
Представлены 6 лабораторных работ по курсу «Оптика. Дифракция». Описание каждой лабораторной работы содержит краткое изложение теории со ссылкой на учебную литературу. Предназначено для студентов и преподавателей Института инженерной физики и радиоэлектроники.
Права на использование:
Для личного использования.
Коллекции:
Метаданные:
Показать полную информациюСвязанные материалы
Показаны похожие ресурсы по названию, автору или тематике.
-
Полнопрофильный рентгенофазовый анализ состава электролита алюминиевого производства на основе мультипопуляционного эволюционного алгоритма и данных элементного анализа
Дубинин, П.С.; Залога, А.Н.; Бураков, С.В.; Гусев, К.А.; Андрющенко, Е.С.; Якимов, И.С.; Безрукова, О.Е.; Самойло, А.С.; Dubinin, Petr S.; Zaloga, Alexandr N.; Burakov, Sergey V.; Gusev, Konstantin A.; Andryushchenko, Evgeniy S.; Yakimov, Igor S.; Bezrukovа, Oksana E.; Samoilo, Alexandr S. (Сибирский федеральный университет. Siberian Federal University, 2018-06)Разработан метод количественного рентгенофазового анализа (КРФА) на основе самоконфигурируемого мультипопуляционного параллельного генетического алгоритма (СГА), который успешно применен для бесстандартного автоматического ... -
Методы современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании материалов
Жарков, С.М.; Zharkov, Sergey M. (Сибирский федеральный университет. Siberian Federal University., 2009-12)На примере различных материалов: тонких пленок Al/Au, наночастиц Pd-Au, углеродных нанотрубок, фотонного кристалла показаны возможности современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании микроструктуры. ... -
Гидротермальная устойчивость мезоструктурированного силиката МСМ-41 с точки зрения траектории его формирования
Кирик, С.Д.; Kirik, Sergei D.; Парфенов, В.А.; Parfenov, Vladimir A. (Сибирский федеральный университет. Siberian Federal University., 2011-03)Проведено исследование изменения мезоструктуры силикатного материала МСМ-41 на основных стадиях синтеза в зависимости от изменяемых условий. Для фиксации параметров мезоструктурного состояния применена рентгеновская дифракция ... -
Эволюционный метод моделирования кристаллической структуры вещества по данным порошковой дифракции
Yakimov, Yaroslav I.; Якимов, Я.И.; Kirik, Sergei D.; Кирик, С.Д.; Semenkin, Evgeny S.; Семенкин, Е.С.; Solovyov, Leonid A.; Соловьев, Л.А.; Yakimov, Igor S.; Якимов, И.С. (Сибирский федеральный университет. Siberian Federal University., 2013-06)The evolutionary method for modeling of crystal structure from powder diffraction integrated with full profile analysis method and genetic algorithm is proposed. An evolutionary mechanism of new hybrid method is studies ... -
Моделирование кристаллической структуры комплексных соединений платиновых металлов с помощью параллельных вычислений на основе генетических алгоритмов и данных рентгеновской дифракции
Залога, А.Н.; Дубинин, П.С.; Кирик, С.Д.; Мулагалеев, Р.Ф.; Соловьев, Л.А.; Якимов, И.С.; Zaloga, Alexander N.; Dubinin, Peter S.; Kirik, Sergey D.; Mulagaleev, Ruslan F.; Solovyev, Leonid A.; Yakimov, Igor S. (Сибирский федеральный университет. Siberian Federal University., 2016-02)Модели кристаллической структуры комплексных соединений [Pd(CH3NH2)4][PdBr4] (пр.гр. P4/mnc (128), a=10.6866(7) Å, c=6.7262(3) Å, V=768.16(10) Å3) и [Pt(NH3)5Cl]Br3 (пр. гр. I41/a (88), параметры ячейки a=17.2587(5) Å; ...