Методы современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании материалов

Abstract

На примере различных материалов: тонких пленок Al/Au, наночастиц Pd-Au, углеродных нанотрубок, фотонного кристалла показаны возможности современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании микроструктуры. Продемонстрировано применение методов высокоразрешающей и аналитической просвечивающей электронной микроскопии, а также дифракции электронов.

At the example of Al/Au thin films, Pd-Au nanoparticles, carbon nanotubes, and, photonic crystal, the performance capabilities of modern transmission electron microscopy in the studies of microstructure are shown. The application of the methods of high-resolution and analytical transmission electron microscopy, and, electron diffraction is demonstrated.