Физика твердого тела: основы кристаллографии. Оценка физико-механических свойств поликристаллических металлов

Abstract

Подготовлено в соответствии с концепцией об определяющей симметрии в изучении физических свойств кристаллов, разработанной академиком А. В. Шубниковым. Симметрия представлена как специфический метод структурной кристаллографии и кристаллофизики. Кратко изложены теории групп и представлений групп, лежащие в основе математической теории симметрий. Описана симметрия пространственных геометрических фигур. Рассмотрены теоретические вопросы структурной кристаллографии: параметры и типы пространственных решеток кристаллических материалов, кристаллографические индексы плоскостей и направлений, построение их проекций. Дана характеристика применяемых проекций кристаллов и стереографических сеток. Рассмотрены особенности применения стереографических проекций для усвоения основ геометрической кристаллографии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 15.03.01 «Машиностроение».