Новые материалы наноматериаловедения. Рентгенофазовый анализ тонких пленок и порошковых образцов
View/
Full Text on Another Site
URI (for links/citations):
Compiler:
Чурилов, Григорий Николаевич
Дудник, Александр Иванович
Corporate Contributor:
Сибирский федеральный университет
Институт инженерной физики и радиоэлектроники
Date:
2013Bibliographic Citation:
Новые материалы наноматериаловедения. Рентгенофазовый анализ тонких пленок и порошковых образцов : учебно-методическое пособие для лабораторных работ [для студентов спец. 223200.68 «Техническая физика»] / Сиб. федер. ун-т, Ин-т инженер. физики и радиоэлектроники, 2013. - Текст : электронный.Учебно-методическое пособие для лабораторных работ [для студентов спец. 223200.68 «Техническая физика»].
Доступ к полному тексту открыт из сети СФУ, вне сети доступ возможен для читателей Научной библиотеки СФУ или за плату.
Abstract:
В учебно-методическом пособии описаны краткие теоретические сведения по способу получения рентгеновских лучей, их взаимодействию с кристаллической структурой вещества и принципам рентгенофазового анализа. Рентгенофазовый анализ проводится на автоматизированной установке ДРОН-4. Предназначено для студентов специальности 223200.68 «Техническая физика».
Rights:
Для личного использования.