Two-layer Model of Reflective Ferromagnetic Films in Terms of Magneto-optical Ellipsometry Studies

Abstract

An approach to analysis of magneto-optical ellipsometry measurements is presented. A two-layer model of ferromagnetic reflective films is in focus. The obtained algorithm can be used to control optical and magneto-optical properties during films growth inside vacuum chambers

Представлен метод анализа магнито-эллипсометрических измерений. Детально рассматрива- ется двуслойная модель ферромагнитных отражающих пленок. Полученный алгоритм может использоваться для контроля оптических и магнито-оптических свойств пленок в процессе их роста в вакуумных камерах