Thickness dependences of coercivity in three layer films obtained by chemical deposition
URI (для ссылок/цитирований):
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/1389/1/012118https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/142617
Автор:
A, V Chzhan
S, A Podorozhnyak
A, N Shahov
D, A Velikanov
G, S Patrin
Коллективный автор:
Институт инженерной физики и радиоэлектроники
Кафедра экспериментальной физики и инновационных технологий