Экспериментальное и теоретическое исследование слоистых ферромагнитных структур методом спектральной in situ магнитоэллипсометрии/EXPERIMENTAL AND THEORETICAL IN SITU SPECTRAL MAGNETO-ELLIPSOMETRY STUDY OF LAYERED FERROMAGNETIC STRUCTURES
Скачать файл:
URI (для ссылок/цитирований):
http://www.jetpletters.ac.ru/ps/2241/article_33567.pdfhttps://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/142512
Автор:
Максимова, О. А.
Лященко, С. А.
Высотин, М. А.
Тарасов, И. А.
Яковлев, И. А.
Шевцов, Д. В.
Федоров, А. С.
Варнаков, С. Н.
Овчинников, С. Г.
Коллективный автор:
Институт инженерной физики и радиоэлектроники
Базовая кафедра фотоники и лазерных технологий
Дата:
2019-08Журнал:
JETP LettersКвартиль журнала в Scopus:
Q2Квартиль журнала в Web of Science:
Q3Библиографическое описание:
Максимова, О. А. Экспериментальное и теоретическое исследование слоистых ферромагнитных структур методом спектральной in situ магнитоэллипсометрии/EXPERIMENTAL AND THEORETICAL IN SITU SPECTRAL MAGNETO-ELLIPSOMETRY STUDY OF LAYERED FERROMAGNETIC STRUCTURES [Текст] / О. А. Максимова, С. А. Лященко, М. А. Высотин, И. А. Тарасов, И. А. Яковлев, Д. В. Шевцов, А. С. Федоров, С. Н. Варнаков, С. Г. Овчинников // JETP Letters. — 2019. — Т. 110 (№ 3). — С. 166-172Текст статьи не публикуется в открытом доступе в соответствии с политикой журнала.
Аннотация:
Данная статья посвящена развитию методики обработки данных спектральной in situ магнитоэллипсометрии для анализа ферромагнитных планарных наноструктур. В рамках нового подхода к интерпретации модулированных магнитным полем спектральных эллипсометрических измерений, проводимых с использованием магнитооптического эффекта Керра в экваториальной конфигурации, апробируется многослойная модель, содержащая ферромагнитный слой с двумя пограничными интерфейсами, неферромагнитный буферный слой и неферромагнитную подложку. В частности, исследуется влияние толщины ферромагнитного слоя на результаты магнитоэллипсометрических измерений. Для измерений были выбраны поликристаллические пленки Fe различной толщины на неферромагнитной поверхности SiO2/Si(100). В результате обработки данных спектральных магнитоэллипсометрических измерений определены комплексные диагональные и недиагональные компоненты тензора диэлектрической проницаемости в спектральном диапазоне 1.38–3.45 эВ. Приведено сопоставление полученных результатов с литературными данными других авторов и расчетом тензора диэлектрической проницаемости Fe в рамках теории функционала плотности.