Экспериментальное исследование коэффициента теплопроводности в тонких пленках на основе одностенных углеродных нанотрубок/Experimental Study of the Thermal Conductivity of Single-Walled Carbon Nanotube-Based Thin Films
Скачать файл:
URI (для ссылок/цитирований):
http://journals.ioffe.ru/articles/49358https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/142472
Автор:
Тамбасов, И. А.
Воронин, А. С.
Евсевская, Н. П.
Кузнецов, Ю. М.
Лукьяненко, А. В.
Тамбасова, Е. В.
Горнаков, М. О.
Дорохин, М. В.
Логинов, Ю. Ю.
Коллективный автор:
Инженерно-строительный институт
Кафедра проектирования зданий и экспертизы недвижимости
Дата:
2020-06Журнал:
Физика твердого тела/Physics of the Solid StateКвартиль журнала в Scopus:
Q3Квартиль журнала в Web of Science:
Q4Библиографическое описание:
Тамбасов, И. А. Экспериментальное исследование коэффициента теплопроводности в тонких пленках на основе одностенных углеродных нанотрубок/Experimental Study of the Thermal Conductivity of Single-Walled Carbon Nanotube-Based Thin Films [Текст] / И. А. Тамбасов, А. С. Воронин, Н. П. Евсевская, Ю. М. Кузнецов, А. В. Лукьяненко, Е. В. Тамбасова, М. О. Горнаков, М. В. Дорохин, Ю. Ю. Логинов // Физика твердого тела/Physics of the Solid State. — 2020. — Т. 62 (№ 6). — С. 1090-1094Текст статьи не публикуется в открытом доступе в соответствии с политикой журнала.
Аннотация:
Тонкие пленки на основе одностенных углеродных нанотрубок с толщиной от 11 ± 3 до 157 ± 18 nm
были сформированы с помощью вакуумной фильтрации. Коэффициент теплопроводности в тонких пленках
был исследован в зависимости от толщины и температуры до 450 K с помощью 3ω-метода. Обнаружено,
что в области 49 nm подведенное тепло от золотой полоски начинало эффективно распространяться в
плоскость тонкой пленки. Коэффициент теплопроводности для тонких пленок с толщиной от 49 ± 8 nm был
измерен согласно 3ω-метода для объемных образцов. Было обнаружено, что коэффициент теплопроводности
в тонких пленках на основе одностенных углеродных нанотрубок сильно зависит от толщины и температуры.
Коэффициент теплопроводности резко повышался (∼ 60 раз) при увеличении толщины с 11 ± 3 до
65 ± 4 nm. Kроме этого, было выявлено, что коэффициент теплопроводности для 157 ± 18 nm тонкой пленки
стремительно уменьшался с 211 ± 11 до 27.5 ± 1.4 W · m−1· K−1 для 300 и 450 K соответственно.