Nonparametric algorithm of electronic components test data pattern recognition
URI (для ссылок/цитирований):
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/537/4/042021https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/128735
Автор:
Кононова (Коплярова), Надежда Владимировна
Чжан, Екатерина Анатольевна
Медведев, Александр Васильевич
Корнеева, Анна Анатольевна
Раскина, Анастасия Владимировна
Кукарцев, Владислав Викторович
Тынченко, Вадим Сергеевич
Коллективный автор:
Институт космических и информационных технологий
Кафедра информационных систем
Базовая кафедра интеллектуальных систем управления
Дата:
2019-06Журнал:
IOP Conference Series: Materials Science and EngineeringКвартиль журнала в Scopus:
без квартиляКвартиль журнала в Web of Science:
без квартиляБиблиографическое описание:
Кононова (Коплярова), Надежда Владимировна. Nonparametric algorithm of electronic components test data pattern recognition [Текст] / Надежда Владимировна Кононова (Коплярова), Екатерина Анатольевна Чжан, Александр Васильевич Медведев, Анна Анатольевна Корнеева, Анастасия Владимировна Раскина, Владислав Викторович Кукарцев, Вадим Сергеевич Тынченко // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2019. — Т. 537 (№ 4).Аннотация:
The paper discusses the quality diagnostics of electrical radio components based on the results of non-destructive testing. A proposed clustering algorithm does not require preliminary information on the number of classes and the training sample. The algorithm allows to automatically determine the number of classes. The division into classes is due to the different characteristics of the measured variables, which correspond to different product quality ranges.