Determination of magnetic anisotropies and miscut angles in epitaxial thin films on vicinal (111) substrate by the ferromagnetic resonance
URI (для ссылок/цитирований):
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304885316318844?via%3Dihubhttps://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/110919
Автор:
Борис, Афанасьевич Беляев
Изотов, Андрей Викторович
Соловьев, Платон Николаевич
Яковлев, Иван Александрович
Коллективный автор:
Институт инженерной физики и радиоэлектроники
Научно-исследовательская часть
Кафедра радиотехники
Дата:
2017-10Журнал:
Journal of Magnetism and Magnetic MaterialsКвартиль журнала в Scopus:
Q1Квартиль журнала в Web of Science:
Q2Библиографическое описание:
Борис, Афанасьевич Беляев. Determination of magnetic anisotropies and miscut angles in epitaxial thin films on vicinal (111) substrate by the ferromagnetic resonance [Текст] / Афанасьевич Беляев Борис, Андрей Викторович Изотов, Платон Николаевич Соловьев, Иван Александрович Яковлев // Journal of Magnetism and Magnetic Materials. — 2017. — Т. 440. — С. 181-184Аннотация:
A method for determining magnetic anisotropy parameters of a thin single-crystal film on vicinal (111)
substrate as well as substrate miscut angles from angular dependence of ferromagnetic resonance field has been
proposed. The method is based on the following: (i) a new approach for the solution of the system of nonlinear
equations for equilibrium and resonance conditions; (ii) a new expression of the objective function for the fitting
problem. The study of the iron silicide films grown on vicinal Si(111) substrates with different miscut angles
confirmed the efficiency of the method. The proposed method can be easily generalized to determine parameters
of single-crystal films grown on substrates with an arbitrary cut.