Черноножкин, С. М. Элементный анализ тонких CVD покрытий на Si подложке методом ИСП-МС с лазерным микро-пробоотбором / С. М. Черноножкин, А. И. Сапрыкин // IX Научная конференция «Аналитика Сибири и Дальнего Востока», сборник материалов [Электронный ресурс]. — Красноярск: Сибирский федеральный ун-т, 2011. — Режим доступа: http://conf.sfu-kras.ru/conf/asfe12/report?memb_id=4515, свободный.
