• русский
    • English
  • русский 
    • русский
    • English
    Просмотр элемента 
    •   Главная
    • Материалы конференций, семинаров
    •   (2012 год) IX Научная конференция «Аналитика Сибири и Дальнего Востока»
    • Просмотр элемента
    •   Главная
    • Материалы конференций, семинаров
    • (2012 год) IX Научная конференция «Аналитика Сибири и Дальнего Востока»
    • Просмотр элемента
    JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

    Элементный анализ тонких CVD покрытий на Si подложке методом ИСП-МС с лазерным микро-пробоотбором

    Thumbnail
    Скачать файл:
    Chernonozhkin_Saprykin.pdf (189.1 КБ)
    URI (для ссылок/цитирований):
    http://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/9152
    Автор:
    Черноножкин, С. М.
    Сапрыкин, А. И.
    (ruotsy@gmail.com, saprykin@niic.nsc.ru)
    Дата:
    2012-10-08
    Библиографическое описание:
    Черноножкин, С. М. Элементный анализ тонких CVD покрытий на Si подложке методом ИСП-МС с лазерным микро-пробоотбором / С. М. Черноножкин, А. И. Сапрыкин // IX Научная конференция «Аналитика Сибири и Дальнего Востока», сборник материалов [Электронный ресурс]. — Красноярск: Сибирский федеральный ун-т, 2011. — Режим доступа: http://conf.sfu-kras.ru/conf/asfe12/report?memb_id=4515, свободный.
    Коллекции:
    • (2012 год) IX Научная конференция «Аналитика Сибири и Дальнего Востока» [183]
    Метаданные:
    Показать полную информацию

    DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
    Контакты | Отправить отзыв
    Theme by 
    @mire NV
     

     


    DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
    Контакты | Отправить отзыв
    Theme by 
    @mire NV