Show simple item record

Черноножкин, С. М.ru_RU
Сапрыкин, А. И.ru_RU
2013-01-28T09:49:35Z
2017-07-06T09:01:33Z
2013-01-28T09:49:35Z
2017-07-06T09:01:33Z
2012-10-08ru_RU
Черноножкин, С. М. Элементный анализ тонких CVD покрытий на Si подложке методом ИСП-МС с лазерным микро-пробоотбором / С. М. Черноножкин, А. И. Сапрыкин // IX Научная конференция «Аналитика Сибири и Дальнего Востока», сборник материалов [Электронный ресурс]. — Красноярск: Сибирский федеральный ун-т, 2011. — Режим доступа: http://conf.sfu-kras.ru/conf/asfe12/report?memb_id=4515, свободный.ru_RU
http://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/9152
Сибирский федеральный университетru
IX Научная конференция «Аналитика Сибири и Дальнего Востока», Секция «Спектрометрические методы»ru_RU
Элементный анализ тонких CVD покрытий на Si подложке методом ИСП-МС с лазерным микро-пробоотборомru_RU
Conference Item
Conference Paper
ruotsy@gmail.com, saprykin@niic.nsc.ruru_RU


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record