Показать сокращенную информацию
Effect of the Structural Properties on the Electrical Resistivity of the Al/Ag Thin Films during the Solid-State Reaction
| Автор | Altunin, R. R. | |
| Автор | Moiseenko, E. T. | |
| Автор | Жарков, Сергей Михайлович | |
| Дата внесения | 2021-08-13T09:33:30Z | |
| Дата, когда ресурс стал доступен | 2021-08-13T09:33:30Z | |
| Дата публикации | 2020-04 | |
| Библиографическое описание | Altunin, R. R. Effect of the Structural Properties on the Electrical Resistivity of the Al/Ag Thin Films during the Solid-State Reaction [Текст] / R. R. Altunin, E. T. Moiseenko, Сергей Михайлович Жарков // Physics of the Solid State. — 2020. — Т. 62 (№ 4). — С. 621 | |
| ISSN | 10637834 | |
| URI (для ссылок/цитирований) | https://link.springer.com/article/10.1134/S1063783420040034 | |
| URI (для ссылок/цитирований) | https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/142922 | |
| Описание | Текст статьи не публикуется в открытом доступе в соответствии с политикой журнала. | |
| Название | Effect of the Structural Properties on the Electrical Resistivity of the Al/Ag Thin Films during the Solid-State Reaction | |
| Тип | Journal Article | |
| Тип | Published Journal Article | |
| Страницы | 621 | |
| Дата обновления | 2021-08-13T09:33:30Z | |
| DOI | 10.1134/S1063783420040034 | |
| Институт | Политехнический институт | |
| Подразделение | Кафедра материаловедения и технологии обработки материалов | |
| Подразделение | Научно-исследовательская часть | |
| Журнал | Physics of the Solid State | |
| Квартиль журнала в Scopus | Q3 | |
| Квартиль журнала в Web of Science | Q4 |
