Effect of the Structural Properties on the Electrical Resistivity of the Al/Ag Thin Films during the Solid-State Reaction
Скачать файл:
URI (для ссылок/цитирований):
https://link.springer.com/article/10.1134/S1063783420040034https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/142922
Автор:
Altunin, R. R.
Moiseenko, E. T.
Жарков, Сергей Михайлович
Коллективный автор:
Политехнический институт
Кафедра материаловедения и технологии обработки материалов
Научно-исследовательская часть
Дата:
2020-04Журнал:
Physics of the Solid StateКвартиль журнала в Scopus:
Q3Квартиль журнала в Web of Science:
Q4Библиографическое описание:
Altunin, R. R. Effect of the Structural Properties on the Electrical Resistivity of the Al/Ag Thin Films during the Solid-State Reaction [Текст] / R. R. Altunin, E. T. Moiseenko, Сергей Михайлович Жарков // Physics of the Solid State. — 2020. — Т. 62 (№ 4). — С. 621Текст статьи не публикуется в открытом доступе в соответствии с политикой журнала.