Показать сокращенную информацию
Применение сканирующей электронной микроскопии в решении актуальных проблем материаловедения
| Автор | Зеер, Г.М. | ru |
| Автор | Zeer, Galina M. | en |
| Автор | Фоменко, О.Ю. | ru |
| Автор | Fomenko, Oksana Yu. | en |
| Автор | Ледяева, О.Н. | ru |
| Автор | Ledyaeva, Olga N. | en |
| Дата внесения | 2010-05-25T05:48:50Z | |
| Дата, когда ресурс стал доступен | 2010-05-25T05:48:50Z | |
| Дата публикации | 2009-12 | en |
| URI (для ссылок/цитирований) | https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/1656 | |
| Аннотация | Рассмотрены вопросы практического применения сканирующей электронной микроскопии и микрорентгеноспектрального анализа для исследования материалов. Показаны возможности сканирующего электронного микроскопа JSM 7001F фирмы JEOL (Япония) с системой микроанализаторов фирмы Oxford Instruments (Великобритания) на примере диффузионных соединений разнородных материалов, серебряных электроконтактов и сплава на основе алюминия. | ru |
| Аннотация | Some aspects of application of scanning electron microscopy and X-ray microanalysis to study materials were considered. Capabilities of JSM 7001F scanning electron microscope of JEOL Company with a set of Oxford Instruments (UK) microanalyzers were demonstrated using diffusive compositions of heterogeneous compounds, silver electrical contacts as well as an aluminum alloy. | en |
| Размер | 1597745 bytes | |
| MIME | application/pdf | |
| Язык | ru | en |
| Издатель | Сибирский федеральный университет. Siberian Federal University. | en |
| Является частью серии | 2009 2 ( 4 ) | en |
| Является частью серии | Журнал Сибирского федерального университета. Химия. Journal of Siberian Federal University. Chemistry. | en |
| Тема | сканирующая электронная микроскопия | ru |
| Тема | микроструктура | ru |
| Тема | микрорентгеноспектральный анализ | ru |
| Тема | scanning electron microscopy | en |
| Тема | microstructure | en |
| Тема | X-ray microanalysis | en |
| Название | Применение сканирующей электронной микроскопии в решении актуальных проблем материаловедения | ru |
| Альтернативное название | Application of Scanning Electron Microscopy in Material Science | en |
| Тип | Journal Article | |
| Тип | Published Journal Article | |
| Контакты автора | Зеер, Г.М. : Сибирский федеральный университет ; Россия 660041, Красноярск, пр. Свободный,79 , e-mail: g-zeer@mail.ru | ru |
| Контакты автора | Zeer, Galina M. : Siberian Federal University ; 79 Svobodny, Krasnoyarsk, 660041 Russia , e-mail: g-zeer@mail.ru | en |
| Контакты автора | Фоменко, О.Ю. : Сибирский федеральный университет ; Россия 660041, Красноярск, пр. Свободный,79 | ru |
| Контакты автора | Fomenko, Oksana Yu. : Siberian Federal University ; 79 Svobodny, Krasnoyarsk, 660041 Russia | en |
| Контакты автора | Ледяева, О.Н. : Сибирский федеральный университет ; Россия 660041, Красноярск, пр. Свободный,79 | ru |
| Контакты автора | Ledyaeva, Olga N. : Siberian Federal University ; 79 Svobodny, Krasnoyarsk, 660041 Russia | en |
| Страницы | 287-293 | en |
