Исследование спектральных характеристик пленок J-агрегатов в составе многослойных структур

Скачать файл:
URI (для ссылок/цитирований):
https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/157105
Автор:
Дойко, Роман Константинович
Научный руководитель:
Тимофеев, Иван Владимирович
Коллективный автор:
Институт инженерной физики и радиоэлектроники
Базовая кафедра фотоники и лазерных технологий
Дата:
2025
Библиографическое описание:
Дойко, Роман Константинович. Исследование спектральных характеристик пленок J-агрегатов в составе многослойных структур [Электронный ресурс] : магистерская диссертация : 16.04.01 / Р. К. Дойко. — Красноярск : СФУ, 2025.
Специальность выпускной работы:
16.04.01 Техническая физика
Образовательная программа выпускной работы:
16.04.01.02 Оптическая физика и квантовая электроника
Учёная степень или квалификация, на которую выполнена работа:
Магистр

Текст работы публикуется с изъятиями.
Аннотация:
Целью данной работы было изучение спектральных характеристик структуры, представляющей из себя фотонный кристалл с дефектным слоем в виде пленки J-агрегата. Для выполнения поставленной цели были сформулированы следующие задачи: показать возможность перестройки спектра при варьировании параметров структуры; найти смещение длины волны максимального поглощения агрегатов J562, J587 и J619 в фотоннокристаллической структуре;рассчитать спектры структуры при попарной комбинации слоев различных J-агрегатов; определить минимальную толщину пленки, достаточную для создания узкополосного поглотителя.
Коллекции:
Метаданные:
Показать полную информацию