Показать сокращенную информацию
ОСОБЕННОСТИ ПОВЕДЕНИЯ МАГНИТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ВБЛИЗИ КРАЕВ ТОНКИХ ПЕРМАЛЛОЕВЫХ ПЛЕНОК/Magnetic Properties of Permalloy Thin Film Edges
Автор | Беляев, Борис Афанасьевич | |
Автор | Боев, Никита Михайлович | |
Автор | Изотов, Андрей Викторович | |
Автор | Скоморохов, Георгий Витальевич | |
Автор | Соловьев, Платон Николаевич | |
Дата внесения | 2021-08-13T09:30:30Z | |
Дата, когда ресурс стал доступен | 2021-08-13T09:30:30Z | |
Дата публикации | 2020-05 | |
Библиографическое описание | Беляев, Борис Афанасьевич. ОСОБЕННОСТИ ПОВЕДЕНИЯ МАГНИТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ВБЛИЗИ КРАЕВ ТОНКИХ ПЕРМАЛЛОЕВЫХ ПЛЕНОК/Magnetic Properties of Permalloy Thin Film Edges [Текст] / Борис Афанасьевич Беляев, Никита Михайлович Боев, Андрей Викторович Изотов, Георгий Витальевич Скоморохов, Платон Николаевич Соловьев // Russian Physics Journal. — 2020. — Т. 63 (№ 1). — С. 16-22 | |
ISSN | 10648887 | |
URI (для ссылок/цитирований) | http://journals.tsu.ru/physics/&journal_page=archive&id=1950&article_id=43530 | |
URI (для ссылок/цитирований) | https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/142473 | |
Описание | Текст статьи не публикуется в открытом доступе в соответствии с политикой журнала. | |
Аннотация | С помощью сканирующего спектрометра ферромагнитного резонанса (ФМР) изучены магнитные свойства нанокристаллических тонких пленок, изготовленных методом магнетронного распыления мишеней пермаллоя различного состава Ni x Fe1-x ( x = 0.6-0.85). Проведен анализ особенностей поведения основных магнитных характеристик вблизи краев тонких пленок. Показано, что вблизи краев пленок не только значительно отклоняется величина поля одноосной магнитной анизотропии от среднего значения, но и резко уширяется линия ФМР, а также уменьшается эффективная намагниченность насыщения. | |
Тема | тонкая магнитная пленка | |
Тема | ферромагнитный резонанс | |
Тема | краевые эффекты | |
Тема | магнитная анизотропия | |
Название | ОСОБЕННОСТИ ПОВЕДЕНИЯ МАГНИТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ВБЛИЗИ КРАЕВ ТОНКИХ ПЕРМАЛЛОЕВЫХ ПЛЕНОК/Magnetic Properties of Permalloy Thin Film Edges | |
Тип | Journal Article | |
Тип | Published Journal Article | |
Страницы | 16-22 | |
Дата обновления | 2021-08-13T09:30:30Z | |
DOI | 10.1007/s11182-020-01997-6 | |
Институт | Институт инженерной физики и радиоэлектроники | |
Подразделение | Кафедра радиотехники | |
Журнал | Russian Physics Journal | |
Квартиль журнала в Scopus | Q3 | |
Квартиль журнала в Web of Science | Q4 |