Показать сокращенную информацию
Nonparametric algorithm of electronic components test data pattern recognition
| Автор | N, V Koplyarova | |
| Автор | Chzhan, E. A. | |
| Автор | Medvedev, A. V. | |
| Автор | Korneeva A.A | |
| Автор | Kukartsev, V. V. | |
| Автор | Tynchenko, V. S. | |
| Дата внесения | 2020-01-20T07:57:39Z | |
| Дата, когда ресурс стал доступен | 2020-01-20T07:57:39Z | |
| Дата публикации | 2019 | |
| Библиографическое описание | N, V Koplyarova. Nonparametric algorithm of electronic components test data pattern recognition [Текст] / V Koplyarova N, E. A. Chzhan, A. V. Medvedev, Korneeva A.A, V. V. Kukartsev, V. S. Tynchenko // IOP Conf. Series: Materials Science and Engineering. — 2019. — № 537. | |
| URI (для ссылок/цитирований) | https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/537/4/042021/pdf | |
| URI (для ссылок/цитирований) | https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/129363 | |
| Название | Nonparametric algorithm of electronic components test data pattern recognition | |
| Тип | Journal Article | |
| Тип | Published Journal Article | |
| ГРНТИ | 82.05.21 | |
| Дата обновления | 2020-01-20T07:57:39Z | |
| Институт | Институт нефти и газа | |
| Институт | Институт космических и информационных технологий | |
| Подразделение | Кафедра технологических машин и оборудования нефтегазового комплекса | |
| Подразделение | Кафедра информатики | |
| Журнал | IOP Conf. Series: Materials Science and Engineering | |
| Квартиль журнала в Scopus | без квартиля | |
| Квартиль журнала в Web of Science | без квартиля |
