Two-layer Model of Reflective Ferromagnetic Films in Terms of Magneto-optical Ellipsometry
Скачать файл:
URI (для ссылок/цитирований):
http://elib.sfu-kras.ru/bitstream/2311/31548/1/maximova.pdfhttps://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/70274
Автор:
Maximova, O. A.
Ovchinnikov, S. G.
Kosyrev, N. N.
Lyaschenko, S. A.
Коллективный автор:
Институт фундаментальной биологии и биотехнологии
Кафедра водных и наземных экосистем
Дата:
2017Журнал:
Journal of Siberian Federal University - Mathematics and PhysicsКвартиль журнала в Scopus:
Q4Библиографическое описание:
Maximova, O. A. Two-layer Model of Reflective Ferromagnetic Films in Terms of Magneto-optical Ellipsometry [Текст] / O. A. Maximova, S. G. Ovchinnikov, N. N. Kosyrev, S. A. Lyaschenko // Journal of Siberian Federal University - Mathematics and Physics. — 2017. — Т. 10 (№ 2). — С. 223-232Аннотация:
An approach to analysis of magneto-optical ellipsometry measurements is presented. A two-layer model
of ferromagnetic reflective films is in focus. The obtained algorithm can be used to control optical and
magneto-optical properties during films growth inside vacuum chambers.