Effect of the Structural Properties on the Electrical Resistivity of the Al/Ag Thin Films during the Solid-State Reaction

View/Open:

2020_altunin_ftt_al-ag.pdf (835.0 Kb)

DOI:

10.1134/S1063783420040034

URI (for links/citations):

https://link.springer.com/article/10.1134/S1063783420040034
https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/142922

Author:

Altunin, R. R.

Moiseenko, E. T.

Жарков, Сергей Михайлович

Corporate Contributor:

Политехнический институт

Кафедра материаловедения и технологии обработки материалов

Научно-исследовательская часть

Date:

2020-04

Journal Name:

Physics of the Solid State

Journal Quartile in Scopus:

Q3

Journal Quartile in Web of Science:

Q4

Bibliographic Citation:

Altunin, R. R. Effect of the Structural Properties on the Electrical Resistivity of the Al/Ag Thin Films during the Solid-State Reaction [Текст] / R. R. Altunin, E. T. Moiseenko, Сергей Михайлович Жарков // Physics of the Solid State. — 2020. — Т. 62 (№ 4). — С. 621

Текст статьи не публикуется в открытом доступе в соответствии с политикой журнала.

Collections:

• Статьи в научных журналах (эффективный контракт) [5211]

Metadata:

Show full item record