Nonparametric algorithm of electronic components test data pattern recognition

N, V Koplyarova; Chzhan, E. A.; Medvedev, A. V.; Korneeva A.A; Kukartsev, V. V.; Tynchenko, V. S.

View/Open:

koplyarova_2019_iop_conf._ser._mater._sci._eng._537_042021_5.pdf (827.5 Kb)

URI (for links/citations):

https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/537/4/042021/pdf
https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/129363

Author:

N, V Koplyarova

Chzhan, E. A.

Medvedev, A. V.

Korneeva A.A

Kukartsev, V. V.

Tynchenko, V. S.

Corporate Contributor:

Институт нефти и газа

Институт космических и информационных технологий

Кафедра технологических машин и оборудования нефтегазового комплекса

Кафедра информатики

Date:

2019

Journal Name:

IOP Conf. Series: Materials Science and Engineering

Journal Quartile in Scopus:

без квартиля

Journal Quartile in Web of Science:

без квартиля

Bibliographic Citation:

N, V Koplyarova. Nonparametric algorithm of electronic components test data pattern recognition [Текст] / V Koplyarova N, E. A. Chzhan, A. V. Medvedev, Korneeva A.A, V. V. Kukartsev, V. S. Tynchenko // IOP Conf. Series: Materials Science and Engineering. — 2019. — № 537.

Collections:

Статьи в научных журналах (эффективный контракт) [5211]

Metadata:

Show full item record