Показать сокращенную информацию
Single-layer model of reflective nanostructures for magnetoellipsometry data analysis
| Автор | O, A Maximova | |
| Автор | N, N Kosyrev | |
| Автор | N, Varnakov | |
| Автор | S, A Lyashchenko | |
| Автор | S, G Ovchinnikov | |
| Дата внесения | 2018-02-07T07:34:28Z | |
| Дата, когда ресурс стал доступен | 2018-02-07T07:34:28Z | |
| Дата публикации | 2016-11 | |
| Библиографическое описание | O, A Maximova. Single-layer model of reflective nanostructures for magnetoellipsometry data analysis [Текст] / A Maximova O, N Kosyrev N, Varnakov N, A Lyashchenko S, G Ovchinnikov S // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2016. — Т. 155 (№ 1). — С. 012030 | |
| URI (для ссылок/цитирований) | http://iopscience.iop.org/1757-899X/155/1/012030 | |
| URI (для ссылок/цитирований) | https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/70273 | |
| Аннотация | In this work we present the method of magneto-ellipsometry data analysis. Magnetoellipsometry measurements are conducted in situ during nanostructures synthesis. Magnetic field is applied in configuration of magneto-optical transverse Kerr effect. Single-layer model of reflective nanostructures is in focus. | |
| Название | Single-layer model of reflective nanostructures for magnetoellipsometry data analysis | |
| Тип | Journal Article | |
| Тип | Journal Article Preprint | |
| Страницы | 012030 | |
| ГРНТИ | 29.19.16 | |
| Дата обновления | 2018-02-07T07:34:28Z | |
| DOI | 10.1088/1757-899X/155/1/012030 | |
| Институт | Институт фундаментальной биологии и биотехнологии | |
| Подразделение | Кафедра водных и наземных экосистем | |
| Журнал | IOP Conference Series: Materials Science and Engineering | |
| Квартиль журнала в Scopus | без квартиля | |
| Квартиль журнала в Web of Science | без квартиля |
