Single-layer model of reflective nanostructures for magnetoellipsometry data analysis
Скачать файл:
URI (для ссылок/цитирований):
http://iopscience.iop.org/1757-899X/155/1/012030https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/70273
Автор:
O, A Maximova
N, N Kosyrev
N, Varnakov
S, A Lyashchenko
S, G Ovchinnikov
Коллективный автор:
Институт фундаментальной биологии и биотехнологии
Кафедра водных и наземных экосистем
Дата:
2016-11Журнал:
IOP Conference Series: Materials Science and EngineeringКвартиль журнала в Scopus:
без квартиляКвартиль журнала в Web of Science:
без квартиляБиблиографическое описание:
O, A Maximova. Single-layer model of reflective nanostructures for magnetoellipsometry data analysis [Текст] / A Maximova O, N Kosyrev N, Varnakov N, A Lyashchenko S, G Ovchinnikov S // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2016. — Т. 155 (№ 1). — С. 012030Аннотация:
In this work we present the method of magneto-ellipsometry data analysis. Magnetoellipsometry
measurements are conducted in situ during nanostructures synthesis. Magnetic
field is applied in configuration of magneto-optical transverse Kerr effect. Single-layer model
of reflective nanostructures is in focus.