Дата публикации | 2015 | |
Библиографическое описание | Испытание и диагностика материалов и структур микро- и наноэлектроники : учеб.-метод. пособие для самостоят. работы [для студентов напр. подготовки 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника»] / Сиб. федер. ун-т, Ин-т инж. физики и радиоэлектроники, 2015. - Текст : электронный. | |
Описание | Учеб.-метод. пособие для самостоят. работы [для студентов напр. подготовки 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника»]. | |
Описание | Доступ к полному тексту открыт из сети СФУ, вне сети доступ возможен для читателей Научной библиотеки СФУ или за плату. | |
Аннотация | Содержит сведения, необходимые студентам для выполнения самостоятельной работы при изучении теоретического курса и подготовке к практическим занятиям. Предназначено для студентов очной формы обучения направления подготовки 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника». | |
Язык | rus | |
Издатель | СФУ | |
Права на использование | Для личного использования. | |
Тема | физика | |
Тема | физические основы электроники | |
Тема | наноэлектроника | |
Тема | исследование материалов | |
Тема | электронная микроскопия | |
Тема | самостоятельные работы | |
Тема | учебно-методические пособия | |
Название | Испытание и диагностика материалов и структур микро- и наноэлектроники | |
Тип | Book | |
УДК | 537.533.35(07) | |
Коллективный автор | Сибирский федеральный университет | |
Место издания | Красноярск | |
Институт | Институт инженерной физики и радиоэлектроники | |
Полный текст на другом сайте | https://bik.sfu-kras.ru/elib/view?id=BOOK1-%D0%91%D0%91%D0%9A22.3%2F%D0%98887-472984667 | |
Шифр в ИРБИС | RU/НБ СФУ/BOOK1/ББК22.3/И887-472984667 | |
Составитель | Гардымова, Анна Петровна | |