Показать сокращенную информацию

2013
Новые материалы наноматериаловедения. Рентгенофазовый анализ тонких пленок и порошковых образцов : учебно-методическое пособие для лабораторных работ [для студентов спец. 223200.68 «Техническая физика»] / Сиб. федер. ун-т, Ин-т инженер. физики и радиоэлектроники, 2013. - Текст : электронный.
Учебно-методическое пособие для лабораторных работ [для студентов спец. 223200.68 «Техническая физика»].
Доступ к полному тексту открыт из сети СФУ, вне сети доступ возможен для читателей Научной библиотеки СФУ или за плату.
В учебно-методическом пособии описаны краткие теоретические сведения по способу получения рентгеновских лучей, их взаимодействию с кристаллической структурой вещества и принципам рентгенофазового анализа. Рентгенофазовый анализ проводится на автоматизированной установке ДРОН-4. Предназначено для студентов специальности 223200.68 «Техническая физика».
rus
СФУ
Для личного использования.
материаловедение
Рентгеновская кристаллография
Аллотропные формы углерода
Рентгеновские лучи
Монохроматоры и детекторы
Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом
Получение рентгенограмм
Порошковый дифрактометр ДРОН–4
Приготовление образцов
Процесс съемки
учебно-методические пособия
Новые материалы наноматериаловедения. Рентгенофазовый анализ тонких пленок и порошковых образцов
Book
539.216.2:548.73
Сибирский федеральный университет
Красноярск
Институт инженерной физики и радиоэлектроники
https://bik.sfu-kras.ru/elib/view?id=BOOK1-539%2F%D0%9D766-291865
RU/НБ СФУ/BOOK1/539/Н766-291865
Чурилов, Григорий Николаевич
Дудник, Александр Иванович


Файлы в этом документе

ФайлРазмерФорматПросмотр

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию