Show simple item record

Belyaev, Boris A.en
Izotov, Andrey V.en
Solovev, Platon N.en
Беляев, Борис А.ru_RU
Изотов, Андрей В.ru_RU
Соловьев, Платон Н.ru_RU
2017-01-18T05:22:57Z
2017-01-18T05:22:57Z
2017-03
https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/30744
The magnetic structure of thin nanocrystalline films with a random distribution of magnetization easy axes was studied by means of micromagnetic modeling. The dependences of the correlation function parameters of the non-uniform magnetization on the value of the external in-plane magnetic field were investigated in the wide range (6–1000 nm) of particles sizes. An analysis of the obtained dependences revealed a significant difference between longitudinal (along the field) and transversal (perpendicular to the field) correlation radii of a stochastic magnetic structure. The blocking effect of a fine magnetic structure—a magnetization ripple—was observed during magnetization reversal of the filmsen
Методом микромагнитного моделирования проведены исследования магнитной структуры тон- ких нанокристаллических пленок со случайным распределением осей легкого намагничивания. В широком диапазоне размеров частиц 6–1000 нм исследованы зависимости параметров корреля- ционной функции неоднородной намагниченности от величины внешнего планарного магнитного поля. Анализ полученных зависимостей показал существенное различие корреляционных радиу- сов стохастической магнитной структуры вдоль и поперек направления приложенного поля. При перемагничивании тонких пленок наблюдался эффект блокировки тонкой магнитной структуры «ряби намагниченности»ru_RU
enen
Сибирский федеральный университет. Siberian Federal Universityen
micromagnetic simulationen
thin magnetic filmen
nanocrystallitesen
random anisotropy modelen
микромагнитное моделированиеru_RU
тонкая магнитная пленкаru_RU
нанокристаллитыru_RU
модель случайной анизотропииru_RU
Numerical Simulation of Magnetic Microstructure in Nanocrystalline Thin Films with the Random Anisotropyen
Численное моделирование магнитной микроструктуры нанокристаллических тонких пленок со случайной анизотропиейru_RU
Journal Article
Published Journal Article
Belyaev, Boris A.: Kirensky Institute of Physics SB RAS Akademgorodok, 50/38, Krasnoyarsk, 660036; Institute of Engineering Physics and Radio Electronics Siberian Federal University Svobodny, 79, Krasnoyarsk, 660041 Russiaen
Izotov, Andrey V.: Kirensky Institute of Physics SB RAS Akademgorodok, 50/38, Krasnoyarsk, 660036; Institute of Engineering Physics and Radio Electronics Siberian Federal University Svobodny, 79, Krasnoyarsk, 660041 Russiaen
Solovev, Platon N.: Kirensky Institute of Physics SB RAS Akademgorodok, 50/38, Krasnoyarsk, 660036; Institute of Engineering Physics and Radio Electronics Siberian Federal University Svobodny, 79, Krasnoyarsk, 660041 Russia; platon.solovev@gmail.comen
Беляев, Борис А.: Институт инженерной физики и радиоэлектроники Сибирский федеральный университет Свободный, 79, Красноярск, 660041; Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН Академгородок, 50/38, Красноярск, 660036 Россияru_RU
Изотов, Андрей В.: Институт инженерной физики и радиоэлектроники Сибирский федеральный университет Свободный, 79, Красноярск, 660041; Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН Академгородок, 50/38, Красноярск, 660036 Россияru_RU
Соловьев, Платон Н.: Институт инженерной физики и радиоэлектроники Сибирский федеральный университет Свободный, 79, Красноярск, 660041; Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН Академгородок, 50/38, Красноярск, 660036 Россияru_RU
132–135
Журнал Сибирского федерального университета. Математика и физика. Journal of Siberian Federal University. Mathematics & Physics;2017 10 (1)en


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record


DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Theme by 
@mire NV