Показать сокращенную информацию

Кузубов, Александр А.ru
Kuzubov, Alexander A.en
Кожевникова, Татьяна А.ru
Kojevnikova, Tatyana A.en
Федоров, Александр С.ru
Fedorov, Alexander S.en
Краснов, Павел О.ru
Krasnov, Pavel O.en
Попов, Захар И.ru
Popov, Zaxar I.en
2010-03-26T04:17:16Z
2010-03-26T04:17:16Z
2010-02en
https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/1604
С помощью ab-initio расчетов проведено моделирование взаимодействия атомов кобальта и желе- за с поверхностью кремния (001). При этом найдены наиболее выгодные позиции атомов кобальта и железа на поверхности кремния и показано, что наиболее энергетически выгодны подповерх- ностные положения (UD), когда атомы находятся в позиции под центром димера из атомов кремния. Также проведены расчеты возможных путей миграции атомов данных металлов по поверхности кремния и в подповерхностные положения. С помощью анализа энергии связи по- казано, что с увеличением количества атомов металла (начиная от изолированного атома до полностью заполненного двойного слоя) на поверхности кремния энергия адсорбции атома ме- талла уменьшается на 0,85 эВ (для кобальта) и на 0,90 эВ для железа по сравнению с энергией адсорбции одиночных атомов. Расчет структур с полным двойным заполнением (заполнены как внутренние, так и поверхностные положения) показал, что наиболее энергетически выгодной яв- ляется система с заполненным верхним слоем с симметричным положением атомов металла между двумя димерами одного димерного ряда с атомами металла во внутреннем UD-слое.ru
Interaction of cobalt and iron atoms with (001) surface of silicon is modeled using ab-initio calculations. The most favorite positions of cobalt and iron atoms on silicon surface are determined. It is shown that the most favorite positions are the subsurface (UD) atom positions where metal atoms sit under silicon dimer centers. The migration paths of the metal atoms on the silicon surface and into the subsurface positions are calculated. Using binding energy analysis it is shown that metal binding energy is decreased at 0.85 eV for cobalt and at 0.90 eV for iron cases while the metal concentration is increased from separate metal atoms to fully filled metal double layer at the silicon surface. Calculations of structures with fully filled single metal layer at the surface and structures where the both surface and subsurface metal positions are filled are show that the most favorable are the structures with single filled layer where the metal atoms sit in symmetrical position between two dimers of one row and the system with metal atoms inside the UD layer.en
478262 bytes
application/pdf
ruen
Сибирский федеральный университет. Siberian Federal University.en
2010 3 ( 1 )en
Журнал Сибирского федерального университета. Математика и физика. Journal of Siberian Federal University. Mathematics & Physics.en
физическая химия поверхностиru
реконструкцияru
ab-initio расчетыru
кремнийru
си- лицидыru
surface physical chemistryen
surface reconstructionen
ab-initio calculationsen
siliconen
silicideen
Теоретическое изучение взаимодействия переходных металлов с поверхностью кремния (001)ru
Theoretical Investigation of Transition Metals Interaction with Silicon (001) Surfaceen
Journal Article
Published Journal Article
Кузубов, Александр А. : Сибирский федеральный университет; Свободный 79, Красноярск, 660041, Россия, e-mail: alex_xx@rambler.ruru
Kuzubov, Alexander A. : ; , e-mail: alex_xx@rambler.ruen
Кожевникова, Татьяна А. : Сибирский федеральный университет; Свободный 79, Красноярск, 660041, Россия,ru
Kojevnikova, Tatyana A. : ; ,en
Федоров, Александр С. : Институт физики им. Л.В.Киренского СО РАН; Академгородок 50, Красноярск, 660036, Россия,ru
Fedorov, Alexander S. : ; ,en
Краснов, Павел О. : Сибирский государственный технологический университет; Мира 82, Красноярск, 660049, Россия,ru
Krasnov, Pavel O. : ; ,en
Попов, Захар И. : Институт физики им. Л.В.Киренского СО РАН; Академгородок 50, Красноярск, 660036, Россия,ru
Popov, Zaxar I. : ; ,en
125-132en


Файлы в этом документе

Thumbnail

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию