Author | Shilov, Artem O. | en |
Author | Savchenko, Sergey S. | en |
Author | Vokhmintsev, Alexander S. | en |
Author | Chukin, Andrey V. | en |
Author | Karabanalov, Maksim S. | en |
Author | Vlasov, Maksim I. | en |
Author | Weinstein, Ilya A. | en |
Author | Шилов, Артём О. | ru_RU |
Author | Савченко, Сергей С. | ru_RU |
Author | Вохминцев, Александр С. | ru_RU |
Author | Чукин, Андрей В. | ru_RU |
Author | Карабаналов, Максим С. | ru_RU |
Author | Власов, Максим И. | ru_RU |
Author | Вайнштейн, Илья А. | ru_RU |
Accessioned Date | 2021-02-16T04:29:12Z | |
Available Date | 2021-02-16T04:29:12Z | |
Issued Date | 2021 | |
URI (for links/citations) | http://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/137975 | |
Abstract | In this paper optical properties of microcrystalline HfO2 powder are investigated. X-ray
diffraction and Raman spectroscopy were used to determine that the studied samples are in monoclinic
phase. Based on the analysis of the diffuse reflectance spectra and applying Kubelka-Munk formalism
we evaluated the indirect bandgap value Eg = 5.34 ± 0.05 eV. The calculated value is in agreement
with independent data for HfO2 thin films synthesized by various methods. The paper is based on the
materials of the report presented at the first Russian scientific confererence with the participation of the
international community "YENISEI PHOTONICS – 2020" | en |
Abstract | В работе изучены оптические свойства микрокристаллического порошка диоксида
гафния. Методами рентгеновской дифракции и рамановской спектроскопии установлено, что исследуемые образцы обладают моноклинной кристаллической решёткой. На основе анализа спектров
диффузного отражения и применения формализма Кубелки-Мунка выполнена оценка ширины
непрямой запрещённой зоны Eg = 5.34 ± 0.05 эВ. Полученная величина согласуется с независимыми данными для пленок HfO2, синтезированных различными методами. Статья подготовлена по
материалам доклада на Первой Всероссийской научной конференции с международным участием
«ЕНИСЕЙСКАЯ ФОТОНИКА — 2020» | ru_RU |
Language | en | en |
Publisher | Сибирский федеральный университет. Siberian Federal University | en |
Subject | hafnium dioxide | en |
Subject | diffuse reflectance | en |
Subject | absorption edge | en |
Subject | диоксид гафния | ru_RU |
Subject | диффузное отражение | ru_RU |
Subject | край поглощения | ru_RU |
Title | Energy Gap Evaluation in Microcrystalline m-HfO2 Powder | en |
Alternative Title | Оценка ширины запрещенной зоны в микрокристаллическом порошке m-HfO2 | ru_RU |
Type | Journal Article | en |
Contacts | Shilov, Artem O.: NANOTECH Centre, Ural Federal University Yekaterinburg, Russian Federation; https://orcid.org/0000-0001-8189-2431 | en |
Contacts | Savchenko, Sergey S.: NANOTECH Centre, Ural Federal University Yekaterinburg, Russian Federation; https://orcid.org/0000-0002-6256-5483 | en |
Contacts | Vokhmintsev, Alexander S.: NANOTECH Centre, Ural Federal University Yekaterinburg, Russian Federation; https://orcid.org/0000-0003-2529-3770 | en |
Contacts | Chukin, Andrey V.: NANOTECH Centre, Ural Federal University Yekaterinburg, Russian Federation; https://orcid.org/0000-0001-7611-9591 | en |
Contacts | Karabanalov, Maksim S.: NANOTECH Centre, Ural Federal University Yekaterinburg, Russian Federation; https://orcid.org/0000-0001-6619-2816 | en |
Contacts | Vlasov, Maksim I.: NANOTECH Centre, Ural Federal University Yekaterinburg, Russian Federation; Institute of High-Temperature Electrochemistryof of the Ural Branch RAS Yekaterinburg, Russian Federation | en |
Contacts | Weinstein, Ilya A.: NANOTECH Centre, Ural Federal University Yekaterinburg, Russian Federation; Institute of Metallurgy of the Ural Branch RAS Yekaterinburg, Russian Federation; i.a.weinstein@urfu.ru https://orcid.org/0000-0002-5573-7128 | en |
Contacts | Шилов, Артём О.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация | ru_RU |
Contacts | Савченко, Сергей С.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация | ru_RU |
Contacts | Вохминцев, Александр С.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация | ru_RU |
Contacts | Чукин, Андрей В.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация | ru_RU |
Contacts | Карабаналов, Максим С.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация | ru_RU |
Contacts | Власов, Максим И.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация; Институт высокотемпературной электрохимии УрО РАН Екатеринбург, Российская Федерация | ru_RU |
Contacts | Вайнштейн, Илья А.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация; Институт металлургии УрО РАН Екатеринбург, Российская Федерация | ru_RU |
Pages | 226–231 | ru_RU |
DOI | 10.17516/1997-1397-2021-14-2-226-231 | |
Journal Name | Журнал Сибирского федерального университета. Математика и физика, 2021. Journal of Siberian Federal University. Mathematics & Physics, 2021, 14 (2) | en |