Показать сокращенную информацию
Energy Gap Evaluation in Microcrystalline m-HfO2 Powder
Автор | Shilov, Artem O. | en |
Автор | Savchenko, Sergey S. | en |
Автор | Vokhmintsev, Alexander S. | en |
Автор | Chukin, Andrey V. | en |
Автор | Karabanalov, Maksim S. | en |
Автор | Vlasov, Maksim I. | en |
Автор | Weinstein, Ilya A. | en |
Автор | Шилов, Артём О. | ru_RU |
Автор | Савченко, Сергей С. | ru_RU |
Автор | Вохминцев, Александр С. | ru_RU |
Автор | Чукин, Андрей В. | ru_RU |
Автор | Карабаналов, Максим С. | ru_RU |
Автор | Власов, Максим И. | ru_RU |
Автор | Вайнштейн, Илья А. | ru_RU |
Дата внесения | 2021-02-16T04:29:12Z | |
Дата, когда ресурс стал доступен | 2021-02-16T04:29:12Z | |
Дата публикации | 2021 | |
URI (для ссылок/цитирований) | https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/137975 | |
Аннотация | In this paper optical properties of microcrystalline HfO2 powder are investigated. X-ray diffraction and Raman spectroscopy were used to determine that the studied samples are in monoclinic phase. Based on the analysis of the diffuse reflectance spectra and applying Kubelka-Munk formalism we evaluated the indirect bandgap value Eg = 5.34 ± 0.05 eV. The calculated value is in agreement with independent data for HfO2 thin films synthesized by various methods. The paper is based on the materials of the report presented at the first Russian scientific confererence with the participation of the international community "YENISEI PHOTONICS – 2020" | en |
Аннотация | В работе изучены оптические свойства микрокристаллического порошка диоксида гафния. Методами рентгеновской дифракции и рамановской спектроскопии установлено, что исследуемые образцы обладают моноклинной кристаллической решёткой. На основе анализа спектров диффузного отражения и применения формализма Кубелки-Мунка выполнена оценка ширины непрямой запрещённой зоны Eg = 5.34 ± 0.05 эВ. Полученная величина согласуется с независимыми данными для пленок HfO2, синтезированных различными методами. Статья подготовлена по материалам доклада на Первой Всероссийской научной конференции с международным участием «ЕНИСЕЙСКАЯ ФОТОНИКА — 2020» | ru_RU |
Язык | en | en |
Издатель | Сибирский федеральный университет. Siberian Federal University | en |
Тема | hafnium dioxide | en |
Тема | diffuse reflectance | en |
Тема | absorption edge | en |
Тема | диоксид гафния | ru_RU |
Тема | диффузное отражение | ru_RU |
Тема | край поглощения | ru_RU |
Название | Energy Gap Evaluation in Microcrystalline m-HfO2 Powder | en |
Альтернативное название | Оценка ширины запрещенной зоны в микрокристаллическом порошке m-HfO2 | ru_RU |
Тип | Journal Article | en |
Контакты автора | Shilov, Artem O.: NANOTECH Centre, Ural Federal University Yekaterinburg, Russian Federation; https://orcid.org/0000-0001-8189-2431 | en |
Контакты автора | Savchenko, Sergey S.: NANOTECH Centre, Ural Federal University Yekaterinburg, Russian Federation; https://orcid.org/0000-0002-6256-5483 | en |
Контакты автора | Vokhmintsev, Alexander S.: NANOTECH Centre, Ural Federal University Yekaterinburg, Russian Federation; https://orcid.org/0000-0003-2529-3770 | en |
Контакты автора | Chukin, Andrey V.: NANOTECH Centre, Ural Federal University Yekaterinburg, Russian Federation; https://orcid.org/0000-0001-7611-9591 | en |
Контакты автора | Karabanalov, Maksim S.: NANOTECH Centre, Ural Federal University Yekaterinburg, Russian Federation; https://orcid.org/0000-0001-6619-2816 | en |
Контакты автора | Vlasov, Maksim I.: NANOTECH Centre, Ural Federal University Yekaterinburg, Russian Federation; Institute of High-Temperature Electrochemistryof of the Ural Branch RAS Yekaterinburg, Russian Federation | en |
Контакты автора | Weinstein, Ilya A.: NANOTECH Centre, Ural Federal University Yekaterinburg, Russian Federation; Institute of Metallurgy of the Ural Branch RAS Yekaterinburg, Russian Federation; i.a.weinstein@urfu.ru https://orcid.org/0000-0002-5573-7128 | en |
Контакты автора | Шилов, Артём О.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация | ru_RU |
Контакты автора | Савченко, Сергей С.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация | ru_RU |
Контакты автора | Вохминцев, Александр С.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация | ru_RU |
Контакты автора | Чукин, Андрей В.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация | ru_RU |
Контакты автора | Карабаналов, Максим С.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация | ru_RU |
Контакты автора | Власов, Максим И.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация; Институт высокотемпературной электрохимии УрО РАН Екатеринбург, Российская Федерация | ru_RU |
Контакты автора | Вайнштейн, Илья А.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация; Институт металлургии УрО РАН Екатеринбург, Российская Федерация | ru_RU |
Страницы | 224–229 | ru_RU |
DOI | 10.17516/1997-1397-2021-14-2-226-231 | |
Журнал | Журнал Сибирского федерального университета. Математика и физика, 2021. Journal of Siberian Federal University. Mathematics & Physics, 2021, 14 (2) | en |