Si/Fe flux ratio influence on growth and physical properties of polycrystalline beta-FeSi2 thin films on Si(100) surface

Thumbnail
View/Open:
DOI:
10.1016/j.jmmm.2016.12.084
URI (for links/citations):
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304885316329754
http://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/110718
Author:
Tarasov, I. A.
Visotin, M. A.
Aleksandrovsky, A. S.
Kosyrev, N. N.
Yakovlev, I. A.
Molokeev, M. S.
Lukyanenko, A. V.
Krylov, A. S.
Fedorov, A. S.
Varnakov, S. N.
Ovchinnikov, S. G.
Corporate Contributor:
Институт инженерной физики и радиоэлектроники
Базовая кафедра фотоники и лазерных технологий
Кафедра теоретической физики и волновых явлений
Date:
2017-10
Journal Name:
Journal of Magnetism and Magnetic Materials
Journal Quartile in Scopus:
Q1
Journal Quartile in Web of Science:
Q2
Bibliographic Citation:
Tarasov, I. A. Si/Fe flux ratio influence on growth and physical properties of polycrystalline beta-FeSi2 thin films on Si(100) surface [Текст] / I. A. Tarasov, M. A. Visotin, A. S. Aleksandrovsky, N. N. Kosyrev, I. A. Yakovlev, M. S. Molokeev, A. V. Lukyanenko, A. S. Krylov, A. S. Fedorov, S. N. Varnakov, S. G. Ovchinnikov // Journal of Magnetism and Magnetic Materials. — 2017. — Т. 440. — С. 144-152

Текст статьи не публикуется в открытом доступе в соответствии с политикой журнала.
Collections:
Metadata:
Show full item record